Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур
Батавин В. В. и др.
Рассмотрены физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, а также освещены вопросы их практической реализации. Анализируются причины возникновения погрешностей, даются рекомендации по ограничению и устранению источников ошибок измерений. Приводятся сведения о контрольно-измерительных средствах лабораторного и промышленного применения и их характеристиках. Для инженерно-технических работников, занимающихся контролем качества и исследованием физических свойств полупроводниковых материалов и структур. Несмотря на солидный возраст издания, книга не потеряла своей актуальности и в настоящее время в связи с практически полным отсутствием современной отечественной литературы аналогичного уровня. В особенности она может быть полезна преподавателям и студентам при изучении дисциплин, связанных с полупроводниковым материаловедением.
వర్గాలు:
సంవత్సరం:
1985
ప్రచురణకర్త:
Издательство «Радио и связь»
భాష:
russian
పేజీల సంఖ్య:
264
ISBN 10:
2403000000
ISBN 13:
9782403000009
పుస్తక శ్రేణి:
Измерения в электронике
ఫైల్:
PDF, 11.29 MB
IPFS:
,
russian, 1985